Главная -> Словарь

Интенсивность падающего

На отшлифованный образец наводят пучок световых лучей белого цвета и измеряют интенсивность отражения света с помощью фотомультипликатора, снабженного цифровым вольтметром. Общая отражательная способность записывается с помощью суммирующего,

Изучение дифрактограмм большого количества коксов разной структуры показало, что для характеристики структурирования кокса можно использовать величину отношения интенсивности отражения к его полуширине. Интенсивность отражения характеризует количественное содержание кристаллической фазы, а полуширина -величину и распределение кристаллитов по размерам, внутреннюю межслоевую упорядоченность. Использование интенсивности и полуширины линии внутреннего стандарта, подмешиваемого к коксу, способствует коррекции инструментальных и временных погрешностей. Найдено, что отношение интенсивности к полуширине, названное нами степенью упорядоченности, зависит от структуры кокса и технологии его получения. В процессе термообработки характерным является монотонный рост величины степени упорядоченности с возрастанием

J, эт где J* - интегральная интенсивность отражения

на дифрактограмме кокса; Jrp - интегральная интенсивность отражения

Использование отношения интенсивности линии к полуширине для оценки степени упорядоченности основано на том положении, что интенсивность отражения характеризует количественное содержание углерода в кристаллитах, а полуширина характеризует величину и распределение кристаллитов по размерам, внутреннюю межслоевую упорядоченность. Использование интенсивности и полуширины линии внутреннего стандарта способствует коррекции инструментальных и временных погрешностей и позволяет сопоставлять коксы, дифрак-тограммы которых получены в различное время.

Изучение ТКРР вдоль оси "с" осуществляется по угловому смешению дифракционных отражений и . Достаточная интенсивность и четко выраженные максимумы этих отражений позволяют определять ТКРР вдоль оси "с" с большой точностью. При определении ТКРР вдоль оси "а" слабая интенсивность отражения и его размытый характер приводят к большим ошибкам. Для увеличения интенсивности отражения нами применен способ пропаривания коксов, позволяющий путем ориентирования частиц порошка и фиксации в ориентированном положении увеличивать долю частиц, находящихся в отражающем положении для дифракционного отражения .

Скорость изменения интенсивности отражения с изменением температуры нагрева наивысшая Для анизотропных коксов и наименьшая для изотропных. Введено понятие коэффициента термического изменения интенсивности, которое косвенно отражает анизотропность термического расширения кристаллической решетки и позволяет оценивать характер структуры кокса, его эксплуатационную пригодность. Для определения коэффициента термического изменения интенсивности растертый образец кокса помещается в камеру высокотемпературной приставки УВД-2000, нагревается до 1800°С со скоростью 20°С/мин, выдерживается в течение I ч и ступенчато охлаждается до комнатной температуры. По мере охлаждения через каждые 100 или 200°С при идентичных условиях снимаются дифрактограммы и измеряется интенсивность отражения . В выбранном интервале температур по изменению интенсивности отражения методом наименьших квадратов рассчитывается уравнение

I- Lc ;2- ^с :3-микронапряяешш;4-интенсивность отражения .

По данным таблицы видно, что на первой стадии нагревания «сырого» кокса происходит увеличение размеров межплоскостного расстояния и величины пакетов по оси «с» . При подъеме температуры до 400° С ещё не происходит никаких деструктивных процессов и поэтому данную область температур можно выбрать при изучении коэффициента термического расширения «сырых» коксов. В области температур 400—500° С для «игольчатого» и 400—600° G для рядового кокса наблюдается дальнейший рост do02, но Lc и интенсивность отражения линии 002 уменьшаются. В этом температурном интервале на эффект теплового расширения начинает накладываться эффект от перестройки структуры. Начинается деструкция боковых цепей, слои приобретают большую подвижность, ухудшается ориентация слоев.

Интенсивность отражения асфальтенового сигнала ярко выражена для высокотемпературного образца 2 и характеризует его структуру как высококонденсированную и близкую к коксу. Интенсивность асфальтенового сигнала образца 3', полученного в ВБ с РКВП, характеризует структуру как более аморфную и близкую к асфальтенам исходного сырья .

новскшс лучей на параллельных ароматических слоях и интенсивность его должна зависеть от количества углерода в

Для достижения максимальной скорости реакции сульфохлорирования, а также оптимального соотношения хлора и серы необходима наименьшая интенсивность падающего света. Усиление интенсивности света не имеет влияния на ход реакции. Ниже наименьшей интенсивности света наблюдаются замедление скорости реакции и ухудшение соотношения хлора и серы, а хлорирование в углеродной цепи снова усиливается. При одинаковой интенсивности свет более коротких волн дает более низкое соотношение хлора и серы, чем длинноволновый свет. Это1 благоприятное влияние на реакцию сульфохлорирования может объясняться непосредственным возбуждением молекулы SO2 или промежуточным возникновением радикала R—SO2, тем более что по исследованиям Корнфельда и Веегмана абсорбция SO2 начинается

где /о, / — интенсивность падающего и прошедшего излучения; с — концентрация; / — толщина слоя раствора; е — коэффициент экстинкции, или коэффициент поглощения, который и характеризует молекулу вещества.

денного и основного состояний. Энергетические уровни каждого вещества индивидуальны. В результате поглощения интенсивность падающего излучения уменьшается. Как правило, в экспериментальных схемах измеряется оптическая плотность А, определяемая формулой

где Уо — интенсивность падающего на образец излучения за вычетом фонового поглощения бензина на частоте 2000см '; J — интенсивность излучения на частоте 1090см'1, прошедшего через образец.

где / — интенсивность луча, прошедшего через данное вещество; /о — интенсивность падающего луча; п — число молекул, поглощающих излучение; / — длина пути, пройденного лучом в веществе; е — коэффициент поглощения.

Закон Бугера связывает интенсивность /„ падающего светового потока и интенсивность / светового потока, прошедшего в элементарном объеме расстояние I

Пусть /q — интенсивность падающего света, / — интенсивность рассеянного света в некоторой точке на большом расстоянии R от рассеивающей частицы 0; р — угол рассеяния; г — радиус частицы; р — безразмерный радиус; AQo — элемент телесного угла, в котором распространяется свет от источника излучения; ДЙ — элемент телесного, угла, в котором распространяется рассеянное излучение;

Таким образом, для определения спектра размеров частиц методом малых углов по дифференциальным значениям оптической информации необходимо измерить индикатрису рассеяния / под малыми углами, разделить ее на интенсивность падающего излучения /q, полученную функцию умножить на р^ и продифференцировать по р. Затем, используя любой способ получения значений функции ^D для фиксированных значений р, необходимо вычислить функцию / . Многократным вычислением достигается определение полного спектра размеров частиц.

где I — интенсивность излучения, прошедшего через образец; /0 — интенсивность падающего рентгеновского излучения; цт — массовый коэффициент поглощения; р — плотность поглощающего вещества, кг/м3; I — толщина поглощающего слоя.

где 10% — интенсивность падающего светового потока; 1% — интенсивность светового потока после прохождения слоя.